設備名稱Equipment

時域反射測試儀

型號 type

TDS8200

性能說明
    
  • 訊號完整性、進階的抖動、雜訊、和BER分析
  • 下一代數位設計特性
  • 電訊、資料通訊、儲存區域網路、電腦、和高速背板設計的設 計特性和製造相容測試
  • 印刷電路板、纜線、和IC封裝的TDR、阻抗特性、和串音測量
  • 頻寬由插入式模組決定,未來使用更快速模組時,頻寬可 能超過70 GHz.

規格

  • DC 至 70+ GHz*1 頻寬
  • 領先業界的時基精確度
    ² 搭配 82A04 抖動 <200 fsRMS
    ² 標準 800 fsRMS
  • 多達8個擷取通道的模組化架構
  • 進階的抖動、雜訊、和 BER分析
    ² 從1 Gb/s 至 60 Gb/s 高速序列資料率分析可提供閉 合眼狀圖精密成因的深入分析
    ² 可提供BER和眼狀圖輪廓的高度精確推測
  • 高性能 TDR/TDT
    ² 真正的差動步進產生器和訊號擷取
    ² <28 ps 反應上升時間
    ² 多達 4 個差動對 (8 個通道)
    ² 高完整性差動和單端探測
  • 自動標準波罩測試
    ² 包括 Sonet/SDH、乙太網路、OIF, 和光纖通道的通訊標準
    ² 包括 SATA、SAS、PCI Express, 和 Rapid IO的電腦標準
  • 超過 100 NRZ 、脈衝、和 RZ 測量的自動測量系統
  • FrameScan® 擷取模式
    ² 隔離資料相依錯誤
    ² 極低功率訊號的訊號均化
  • 四色層級可變餘輝波形資料庫
Microsoft Windows 2000 作業系統

購置日期/購置經費/補助計畫

95學年度/94萬/電機系設備費

圖片

(a)儀器正面實照圖